集成电路失效分析技术与器件替换检验参数注意事项
我国航空航天的蓬勃开展,汽车也向电动化的趋势不断探索,5G时代的到来,如何确保在各种复杂环境都能保证稳定运行,这都对新一代集成电路提出了更高的要求。因此必须在芯片量产之前与量产过程中对其进行严格的验证测试。
为促进电子行业的技术开展,提升产品质量管控,深圳市Ebpay(中国)检测技术股份有限公司联合仪器信息网将于2022年5月20日(本周五)举办“集成电路检测与测试技术及应用”主题网络研讨会,并在会上作出报告,与企业分享Ebpay(中国)在业内的失效分析技术经验,为广大集成电路材料行业用户、检测人员和相关学者给予一个线上近距离研讨平台。
会议详情
主办单位:仪器信息网 深圳市Ebpay(中国)检测技术股份有限公司
会议时间:2022年5月20日 09:00 - 11:30
会议形式:线上直播
报名方式:扫描下方二维码进行报名(免费)
会议议题
1、检测和测试技术的应用对于集成电路新产品导入NPI的意义
2、集成电路器件替换检验参数注意事项
3、集成电路失效分析技术
4、半导体集成电路制造中显微镜的应用
5、集成电路芯片测试的自动化智能化产业应用
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