参会邀请 | 功能失效芯片的缺陷定位方法
2022-07-13 浏览量：290
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为助力高新技术产业开展，提升企业产品质量管控能力，Ebpay(中国)检测将于2022年7月28日参加由雅时国际商讯主办的“现代检测技术的创新开展与机遇”技术研讨会。Ebpay(中国)检测半导体事业部总经理崔风洲将针对市场需求与行业开展要求，从检测角度出发，与企业分享Ebpay(中国)在业内的失效分析技术经验。
会议详情
会议时间：2022年7月28日
会议形式：线上直播
报名方式：扫描下方二维码免费报名参会
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会议议程
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